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涂层测厚仪的操作使用是怎样的?

类别:操作使用      出处:维库仪器仪表网      发布于:2019-07-16 14:02:38 | 138 次阅读

    涂层测厚仪的使用


    1.开机:先取开探头线插在仪器上,(插拔探头时,请抓住探头线上的接插件部位插拔,不要直接抓住探头线,以免损坏探头。)


    然后按动“ON/OFF”键(探头与铁基或磁场的距离保持10cm以上)开机听到蜂鸣声后仪器进入测量状态,可以直接进行测量。


    如果测量数据偏差较大,可以进行校准后再测量。


    测量时要注意测量指示,箭头消失后才能再次测量,如右图

 

1.jpg


    2.校准:仪器在出厂前已经经过技术人员系统校准,为保证**度*好在工作现场进行二次系统校准。


    系统校准方法:


    在关机状态下同时按住"ON/OFF"键和"MENU"键,先放开"ON/OFF"键然后放开"MENU"键即可进入系统校准模式。


    本系统校准共需要校准五个标准样片,进入系统后首先显示"铁基"界面,此时要把探头放到被测件的裸露基体上进行测量。


    测量两次后如果测量没有错误操作,伴随着两声蜂鸣便进入**个样片的测量。屏幕显示出厂时提供的**个样片值。


    如果显示的样片值和真实值不符,可以通过"▲▼"键来进行加1或减1操作。


    按住"▲″或"▼"键不动可以连续加或减,直到调整到显示值和真实值相同为止。


    调整完样片值之后即可对**个样片进行测量,测量两次无误后,伴随着两声蜂鸣,仪器进入下一个样片的校准。


    若测量两次后仍无两声蜂鸣,说明操作有误,重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。


    当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000'',进入开机界面如图A,仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。


    注意:样片校准时要按照由小到大的顺序进行。


    如果操作不当造成系统校准紊乱时,可以通过系统初始化设置进行重新校准。


    系统校准初始化设置:


    在关机状态下,同时按住“▲▼”键不动,然后按一下"ON/OFF"键,直到屏幕显示“OK”。松开“▲▼”键,初始化设置即可完成。


    此时仪器显示“铁基”,仪器进入系统校准状态,校准完毕即可正常测量。


    3.在测量状态下存储


    在测量状态下屏幕显示为*新测量值,如需存储按动仪器上面的“ENTER”键,存储地址自动加1。例如当前地址为0004,测量厚度值为1054um,存储后地址变为0005,显示界面如图示。


    屏显结果只能被存储一次,如需另外存储可重新测量。如果要从初始地址重新开始存储可以在存储读出菜单下长按"ENTER"键,储存序列号就会回归至初始地址0001,即可开始重新储存。


    4.设置菜单使用:


    无论在什么状态下按住"MENU"键,仪器显示四项功能菜单为:存储读出------打印-----通讯-----统计,按"▲▼"键可调节箭头的位置来选择不同的功能。(如图示)例如要设置"存储读出"功能;


    在箭头指向"存储读出"标志时按住"ENTER"键,仪器就进入存储读出状态。


    (1)、存储读出


    本仪器可以连续存入600个测量数据,在进入存储读出菜单后即可看到原来存储的数据。通过"▲▼"键可以把不同存储单元中的内容显示出来。


    (2)、打印


    首先把打印机准备好,把打印机插好连线,装入打印纸,接上电源


    此时红灯绿灯都亮,若是绿灯没有亮,则按动打印机上的"SEL"键,绿灯亮起说明打印机已准备好。


    把打印机连线另一头插入仪器"USB"接口,仪器在"打印"功能状态时按"▲"键,仪器开始打印,长按"▼"键结束打印。


    (3)、通讯


    打开通讯软件,把软件上的"打开串口"打开,其它设置都是默认设置。仪器在"通讯"功能状态时按"▲"键,仪器开始通讯,长按"▼"键结束通讯。


    (4)、统计


    为了有效的处理分析测量数据,本仪器带有数据统计功能。


    进入统计菜单后,会显示测量数据的*大值、*小值和平均值。在测量状态下屏幕显示为*新测量值,仪器对测量值进行自动统计。


    屏幕上方"S"后面显示的数字是进入统计的数据个数,为保证统计数据的有效性,在测量少于8次时不显示平均值,超过8次只统计*后测量的8个数据。


    在测量过程当中,如果发现有个别数据的偏差明显较大,可以拿开探头在非测量状态下按住"CAL"键来删除,以免该数据进入数据统计运算。


    此时屏幕出现“0000?m”,即可重新测量数据。在统计状态下直接测量数据就能返回到测量状态。

标签: 涂层测厚仪

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