四探针电阻率测试仪的性能特点与使用

　　四探针电阻率测试仪特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。

　　四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法：

　　一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：

　　1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接；

　　2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可；

　　3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接；

　　4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝；

　　5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部。

　　四探针电阻率测试仪注意事项：

　　1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作；

　　2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量；

　　3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象；

　　4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针。

　　四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。其广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。