PCT未饱和蒸煮试验箱的特点介绍

    PCT高压加速老化测试设备适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板；

    多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

    测试其制品的耐厌性，气密性。

    测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

    加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

    产品特点：

    1.采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率；

    2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏；

    3.门锁省力结构，解决代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

    4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性；

    5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时；

    6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护；

    7.tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg；

    8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

    9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮；

    10.全触控式控制器，支持U盘导出历史记录。

    性能：

    1 设定温度: +100 ℃ ～ +132 ℃( 饱和蒸气温度 )

    2 湿度范围: 100% 蒸气湿度

    3湿度控制稳定度：±1%RH

    4 使用压力: 1.2～2.89kg(含1atm)

    5 时间范围: 0 Hr ～ 9999 Hr

    6 加压时间:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

    7 温度波动均匀度 : ±0.5℃

    8 温度显示精度：0.1℃

    9 压力波动均匀度 : ±0.02Kg

    10 湿度分布均度：±5%RH