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类别:技术参数 出处:冷热冲击试验箱 发布于:2019-03-27 17:35:57 | 1448 次阅读
冷热冲击测试仪用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化;
测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
冷热冲击试验箱主要技术参数:
高温槽温度范围:80℃~200℃
低温槽温度范围□:A:-55~-10℃□B:-65~-10℃□D:-75~-10℃
试验室冲击温度高温:60~150℃;低温:-40~-10℃
稳定度:±0.5℃
均匀度:±2.0℃
升温时间:60℃~200℃约25min
降温时间:20℃~-55℃A:约60minB:约75minD:约95min
冲击恢复时间:5min
内尺寸(cm)H×W×D:35×40×35、40×50×40、50×50×40、50×60×50、60×70×60、75×80×75
保温材质:硬质发泡胶+玻璃棉
内外箱材质内箱:SUS304#镜面不锈钢外箱:SUS304#沙钢
满足标准
GB10589-89、GB10592-89、GB11158-89、GB/T5170.2-1996、GB2423.1-89、GB2423.2-89、GB2424.1-89、GJB150.5-86、QC/T17-92、IEA364-32、IEC68-2-14等。
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