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荧光紫外线灯老化试验箱的技术指标介绍

类别:技术参数      出处:维库仪器仪表网      发布于:2019-05-16 16:59:51 | 299 次阅读

    荧光紫外线灯老化试验箱模拟由紫外光、雨水、露水引起的破坏,通过将被测材料暴露于受控高温下光照与水份的交变循环中,对材料进行测试。


    它用紫外线灯管模拟阳光的辐射作用,用凝结水和喷水来模拟露水和雨水。


    只需几天或几个星期的时间,紫外线辐照设备就可以再现在室外需要几个月甚至几年的时间才会发生的损伤,其中包括褪色、颜色变化、失去光泽、粉化、破裂、裂纹、起皱、起泡、脆化、强度降低、氧化等,其测试结果可用于选择新材料,改善现有材料,或评估材料配方的改变。


    符合标准


    GB/T14552-2008、GB/T16422.3-1997 GB/T16585-96、GB/T16585-1996、GB/T16422.3-1997、:ASTM D4329、ISO 4892-3、ISO 11507、SAE J2020等


    技术指标


    规格型号HE-UV8


    工作室尺寸400mm×1140  mm×380  mm (D×W×H)


    外形尺寸500mm×1300mm×1460  mm (D×W×H)


    紫外灯管UV-A(315~400nm)、UV-B(280~315nm) ,美国原装进口ATALS,灯的中心距离70mm


    辐射强度0.4W/m2~1W/m2以内可调(辐照计选购)


    光照温度范围50℃~70℃


    冷凝温度范围40℃~60℃


    光照温度容差≤±2℃


    温度波动度≤±2℃


    温度解析度0.1℃


    黑板温度计测量范围30~80℃,容差为±1℃


    湿度范围45%~90%R.H


    控温方式PID自整定控温方式


    水槽要求水深不大于25mm,并有供水自动控制器


    标准试件尺寸75×90mm,测试能力48片,试件离灯表面的近平行面距离50mm,样品的厚度20mm

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