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类别:技术参数 发布于:2021-11-23 11:17:41 | 746 次阅读
X射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
1. 分析的元素广,几乎元素周期表上前92号的元素都能分析;
2.分析含量范围广,从lOO%到十万分之几几乎都能测,精度并不亚于其他检测方法;
3.样品在分析过程中不受破坏;
4.快速方便,可在一二分钟内完成二三十个元素的测定;
5.与分析样品的形态无关,固体、液体、块、粒、粉末、薄膜或任意尺寸的样品均可分析;
6. 相对于其他无损检测方法,X射线的能量要大得多(满功率可达2.7XW),X射线的透射深度近lmm,它可较好地解决镀金、包金等样品的测试问题;
7.对操作人员的技术熟练程度要求不高。
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