有关双晶斜探头的校准介绍

    对于深度较浅的疲劳小裂纹，垂直入射的纵波探头探测灵敏度较低，若使用斜入射的纵波探头，则能有效提高其检测灵敏度，提高缺陷检出率。该类纵波探头常常有小角度纵波探头，以及双晶探头(平探头、曲面探头)两种。

    而对于一些厚度小于8mm的薄板焊缝检测，则常常使用横波双晶双斜探头，这种探头可在焊缝边上进行检测，可不用对焊缝磨平处理，在一些特殊结构的构件中也能灵活使用。

    纵波双晶探头和横波双晶双斜探头都可以避免探头盲区的影响，从而能检测到构件表面较浅区域中的缺陷。

    双晶斜探头的校准方法

    1、校准入射点(探头前沿)：用IIW试块(又称荷兰试块)或CSK-IA试块测斜探头零点，将仪器声速调节为3230m/s，显示范围为150mm，然后开始测试，用户如图将探头放在试块上并移动，使得R100mm的圆弧面的反射体回波达到，用直尺量出探头前端面和试块R100mm弧圆心距离，此值即为该探头的前沿值，R100mm弧圆心对应探头上的位置即为探头入射点。

    斜探头校准通常需要以下步骤：1、校准入射点(探头前沿);2、校准探头角度(K值);3、校准材料声速;4校准探头零点。

    2、校准探头角度(K值)：用角度值标定的探头可用IIW试块校准，如果是用K值标定的探头，可用CSK-IA试块校准。

    这两种试块上有角度或K值的标尺，按探头标称值选择合适的标尺(右图所示，在IIW试块上侧可校准60-76度的探头，下侧可校准74-80度的探头，CSK-IA试块上侧可校准K2.0、K2.5、K3.0的探头，下侧可校准K1.0、K1.5的探头。请按试块上的标定值选择用合适的校准试块及校准方法)。

    如图放置探头，左右移动使得反射体回波达到，此时入射点对应的刻度就是探头的角度或K值。

    3、校准材料声速按照1中所述找到R100mm的反射波，调节显示范围使得屏幕上能显示该弧面的二次回波，选择闸门方式为双闸门，调节A闸门与一次回波相交，调节B闸门与二次回波相交，调节声速值使得状态行中声程测量值(S)为100，此时得到的声速值即为该材料的实际声速值。

    4、校准探头零点保持上面的测量状态，将闸门方式改为正或负，调节探头零点使得状态行中声程测量值(S)再次为100，此时得到的探头零点值即为该探头的零点值。

    斜探头的校准方法有很多，并不完全拘泥于用标准试块进行校准，也可以用已知深度的小孔进行校准，理论上参考反射体越小，校准的精度越高，但校准的难度也相应的加大。

    用小孔校准时可通过测量小孔的深度和水平位置，计算斜率来校准角度，并利用测得的深度或水平位置值校准声速和探头零点。