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类别:选购指南 出处:维库仪器仪表网 发布于:2020-09-12 14:50:05 | 1217 次阅读
四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
该仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
四探针测试仪的功能描述:
1、四探针单电测量方法;
2、液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿;
3、高集成电路系统、恒流输出;
4、选配:PC软件进行数据管理和处理;
5、提供中文或英文两种语言操作界面选择。
适用范围:
1、覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;
熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;
电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。
2、硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件;
导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜。
3、EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜。
4、抗静电材料,EMI防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等。
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